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Ghost Imaging with Deep Learning for Position Mapping of Weakly Scattered Light Source
Ghost Imaging with Deep Learning for Position Mapping of Weakly Scattered Light Source
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摘要：
We propose ghost imaging(GI)with deep learning to improve detection speed.GI,which uses an illumination light with random patterns and a single-pixel detector,is correlation-based and thus suitable for detecting weak light.However,its detection time is too long for practical inspection.To overcome this problem,we applied a convolutional neural network that was constructed based on a classification of the causes of ghost image degradation.A feasibility experiment showed that when using a digital mirror device projector and a photodiode,the proposed method improved the quality of ghost images.
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文献信息
| 篇名 | Ghost Imaging with Deep Learning for Position Mapping of Weakly Scattered Light Source | ||
| 来源期刊 | 纳米制造与计量(英文) | 学科 | 工学 |
| 关键词 | Inspection METROLOGY Defect mapping Ghost imaging Single-pixel imaging Deep learning Weak light imaging | ||
| 年，卷（期） | 2021,（1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 37-45 | |
| 页数 | 9页 | 分类号 | TP3 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
Inspection
METROLOGY
Defect
mapping
Ghost
imaging
Single-pixel
imaging
Deep
learning
Weak
light
imaging
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
纳米制造与计量（英文）
主办单位：
天津大学
国际纳米制造学会(ISNM)
Springer-Nature出版集团
出版周期：
季刊
ISSN：
2520-811X
CN：
12-1463/TB
开本：
出版地：
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
30
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