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显示器件测试技术与设备最新进展
显示器件测试技术与设备最新进展
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摘要：
随着显示技术的迅速发展,显示面板画质不断提升,尺寸不断增加,形式也越来越多样化。测试技术对显示器件良率的提高及品质的提升发挥着非常重要的作用,为显示器件大规模生产提供重要保证。基于显示器件的技术发展趋势,分别研究大尺寸LCD/OLED、中小尺寸OLED、AR/VR以及Mini-LED/Micro-LED的发展状况。结合国内外发展现状,针对最新的显示技术发展方向,综述电学检测技术与设备、光学检测技术与设备,以及修复技术与设备等方面的最新发展状况。
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研究主题发展历程
节点文献
显示器件
检测
测试
电学
光学
修复
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子与智能制造
主办单位：
北京方略信息科技有限公司
北京市电子科技情报研究所
出版周期：
季刊
ISSN：
2096-658X
CN：
10-1594/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市东城区北河沿大街79号
邮发代号：
创刊时间：
2019
语种：
chi
出版文献量（篇）
162
总下载数（次）
8
总被引数（次）
19
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