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气体介质、压强及校准方法对真空漏孔漏率的影响
气体介质、压强及校准方法对真空漏孔漏率的影响
作者:
叶小球
李芳芳
王维
钟博扬
陈长安
高涛
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
漏率
校准
定容法
氦质谱检漏仪
气体介质
压强
摘要:
真空标准漏孔作为标定检漏仪或被测量漏率的参考标准,在核工业、航天航空等领域得到了广泛应用.本文利用氦质谱检漏仪和定容法对标准漏孔(铭牌漏率:2.3×10-6 Pa·m3/s,He,23℃)进行校准,以为快速地定量研究聚变材料中氘(D2)或氦(He)行为提供有用的参考.研究结果表明,漏孔漏率随入口端气体压强的增大而增大,并与漏孔两端气体介质压强的平方差呈线性递增关系.同一入口压强下,D2的漏率高于He,且漏率之间的差异随压强增加而变大.同一条件下,定容法和氦质谱检漏仪测得漏孔中示漏气体He的漏率值基本相等,但示漏气体为D2时,氦质谱检漏仪测得的漏率值高于定容法.研究还给出了氦质谱检漏仪测量示漏气体D2时漏孔漏率的修正关系式.
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文献信息
篇名
气体介质、压强及校准方法对真空漏孔漏率的影响
来源期刊
真空科学与技术学报
学科
工学
关键词
漏率
校准
定容法
氦质谱检漏仪
气体介质
压强
年,卷(期)
2017,(12)
所属期刊栏目
真空技术与理论
研究方向
页码范围
1135-1140
页数
6页
分类号
TB77
字数
4041字
语种
中文
DOI
10.13922/j.cnki.cjovst.2017.12.02
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
高涛
四川大学原子与分子物理研究所
71
281
9.0
13.0
2
李芳芳
7
26
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5.0
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研究来源
研究分支
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期刊影响力
真空科学与技术学报
主办单位:
中国真空学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1672-7126
CN:
11-5177/TB
开本:
大16开
出版地:
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
邮发代号:
创刊时间:
1981
语种:
chi
出版文献量(篇)
4084
总下载数(次)
3
总被引数(次)
19905
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