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摘要:
在本文中,我们分析了不同高数值孔径对受激发射损耗(STED)显微中损耗光光强分布的影响。根据Debye矢量衍射积分公式,模拟计算了STED显微成像中,损耗光经过螺旋相位板,再经过高数值孔径(NA)透镜时的聚焦特性。从结果中我们可以得到,当数值孔径增大时,损耗光的半高宽(FWHM)大小会减小,但是当NA从1.15变到1.30时,半高宽保持不变,当NA=1.35,1.4的时,半高宽有向上增加的趋势。结果表明:一般来说当NA增大时,STED显微的分辨率是提高的,但是不能严格地说,数值孔径越大,STED显微镜的分辨率越大。
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内容分析
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文献信息
篇名 高数值孔径对STED超分辨显微成像技术的影响
来源期刊 生物工程前沿:中英文版 学科 物理学
关键词 受激发射损耗显微 分辨率 光强分布 数值孔径 半高宽
年,卷(期) 2016,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-5
页数 5页 分类号 O436.1
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 冯继宏 16 55 5.0 7.0
2 张森 7 39 3.0 6.0
3 高辛未 4 2 1.0 1.0
4 张弘 4 2 1.0 1.0
传播情况
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2016(0)
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研究主题发展历程
节点文献
受激发射损耗显微
分辨率
光强分布
数值孔径
半高宽
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
生物工程前沿:中英文版
季刊
2327-0837
湖北省武汉市武昌区珞狮南路519号(中国
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