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基于空间矩和Zernike矩的亚像素边缘检测
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摘要：
介绍了两种矩的理论,然后根据建立的四参数边缘模型,分别利用两种矩的性质推导出边缘参数与矩之间的关系,利用矩得到图像边缘参数,最后由边缘参数确定图像边缘.两种矩方法得到的边缘的边缘定位精度都已达到亚像素级.
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期刊影响力
应用科学学报
主办单位：
上海大学
中国科学院上海技术物理研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
0255-8297
CN：
31-1404/N
开本：
大16开
出版地：
上海市上大路99号123信箱
邮发代号：
创刊时间：
1983
语种：
chi
出版文献量（篇）
2210
总下载数（次）
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